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商品详情
日置/HIOKI阻抗分析仪IM7580A（1 MHz~300 MHz）
日置/HIOKI阻抗分析仪IM7580A（1 MHz~300 MHz）,最快0.5ms，高速、高稳定测量， 测量频率1MHz~300MHz,基本精度±0.72%rdg，紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小，节省空间。丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定），使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量。
一、基本参数：
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
|---|---|
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 |
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
| 测量频率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进) |
| 测量信号电平 |
功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
| 测量时间 | 最快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
| 接口 |
EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 |
主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
二、选件：
（1）测试治具:
(2)PC通讯：
三、应用：
1、电子元件生产厂家内的电子元件的出货检查和特性评估；
2、电子设备生产厂家内的电子元件的验货检查和特性评估；
3、高校研究所内的电子元件的特性评估。
四、产品测量模式：
五、接口：
本公司承各类电子仪器产品代理等服务，如有需要可拨打优惠热线：
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